X射线荧光分析技术是一种快速、无损、高精准度、可多元素同时测定的物质测量方法。适合于矿产主量、次量及微量成分分析具有简便、快速的优点，这些特点使得该分析技术在许多领域都更加便携且更具优势。

X射线荧光分析技术是一种快速、无损、高精准度、可多元素同时测定的物质测量方法。适合于矿产主量、次量及微量成分分析具有简便、快速的优点，这些特点使得该分析技术在许多领域都更加便携且更具优势。

TrueX 矿石分析仪重量轻、体积小，坚固耐用，能够在很少或没有样本准备的情况下，在采矿活动的各个阶段，包含从基层勘探开发，到矿石品位控制，甚至环境调查等情况下，提供快速、准确的元素分析结果，与传统的实验室方法相比，样品吞吐量高，样品密度增加，省时省心又省力。

使用优势

轻便易携

仪器体积更小、重量更轻，方便携带。

工业电阻触摸屏

4.3英寸工业电阻触摸屏，相比电容屏具有更优异的背光性能，在野外强光下依然清晰可见，同时免除野外特殊环境脱手套操作的危险性。

用户自定义

用户可自定义创建专业报告：包括公司标志、公司地址、检测结果、光谱谱图及其他样品信息(如产品描述、产地、批号等)。

高精准度

选用进口高性能X光射线发射管和高分辨率探测器，结合数字多道处理技术， 使得TrueX手持式矿石分析仪具有更高的分析精度。

GPS系统

可结合内置的GPS经纬度数据及海拔高度数据，通过导入第三方GIS分析软件，构建元素含量地理三维分布图，快速评估出矿产储量或地质环境灾害区域。

参数规格